반도체/LCD 산업에서 연구개발 속도가 생산성에 미치는 영향

본 연구는 반도체/LCD 생산라인에서 신제품 개발에 필요한 연구개발 실험용 제품의 진행 속도가 양산쓰루풋 (throughput)에 얼마나 영향을 주는가를 분석하는 모형을 개발한다. 일반적으로 이들 산업에서 신제품의 연구개발이 마무리 단계에 들어가면 여러 차례의 연구개발 로트를 투입해서 공정 조건을 최적의 상태로 설계한 이후 양산을 시작한다. 따라서 개발 로트의 TAT(turn-around time)가 빠르면 빠를수록 신제품 개발 속도는 비례하여 빨라진다. 연구개발 로트의 TAT를 단축하기 위해서는 양산 로트의 쓰루풋에 있어서 손실을 감수해야 하는데 이는 셋업시간의 증가나 스케줄링 비효율 등 몇 가지 요인들 때문이다. 본 연구에서는 반도체/LCD 생산 펩에서 연구개발 로트의 TAT 수준에 따라 양산 로트의 쓰루풋 변화에 대한 상쇄구조를 분석할 수 있는 확률 모형을 개발하고 이에 대한 실증적 분석을 실시한다. 이 분석모형은 반도체 펩 관리자에게 어느 수준의 연구개발 로트에 대한 TAT를 운영하였을 때 어느 정도 수준의 양산 손실과 그로 인한 매출의 손실이 발생하는지에 대한 분석모형을 제공한다. 이모형을 통해 펩 관리자는 연구개발 로트의 적정 TAT 결정에 대하여 중요한 정보를 제공받을 수 있을 것으로 기대된다.