학술저널
1. 서 론
2. 초고압 고분해능 전자현미경법에 의한 첨단 신소재의 원자레벨 구조해석
3. 최신 TEM 시편 준비법
4. IP 를 이용한 재료의 미세구조 정량해석
5. GlFS 를 이용한 재료의 미세구조 분석
6. 결 론
감사의 글
참고문헌
(0)
(0)
1. 서 론
2. 초고압 고분해능 전자현미경법에 의한 첨단 신소재의 원자레벨 구조해석
3. 최신 TEM 시편 준비법
4. IP 를 이용한 재료의 미세구조 정량해석
5. GlFS 를 이용한 재료의 미세구조 분석
6. 결 론
감사의 글
참고문헌
로딩중