분말 X-선 회절분석법 원리와 신조성 반도체 재료 연구에의 응용

1. 서론

2. 리트벨트 정련(Rietveld refinement)법

3. 피크 선폭과 미세구조(peak broadening and microstructure)

4. 정량적인 상 분석(quantitative phase analysis)

5. Ab initio 구조 결정법 - 미지 분말 시료의 결정구조 규명

6. 분석 결과에 대한 유효성 검사

7. 전망 및 결언

8. 감사의 글

참고문헌