학술대회자료
Wafer Map defects patterns classification using neural networks
- 한국시뮬레이션학회
- 한국시뮬레이션학회 학술대회집
- 2017년 춘계학술대회 발표집
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2017.044319 - 4338 (20 pages)
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1. 연구 개요 Intro
2. 연구 방법 Methods
3. 연구 결과 Results
4. 결과논의 Conclusion
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