KCI등재
학술저널
Interfacial Electrical/Dielectric Characterization in Low Temperature Polycrystalline Si
Interfacial Electrical/Dielectric Characterization in Low Temperature Polycrystalline Si
- 한국마이크로전자및패키징학회
- 마이크로전자 및 패키징학회지
- 제12권 제1호
- : KCI등재후보
- 2005.03
- 77 - 85 (9 pages)