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한국전자통신학회 논문지 제17권 제5호.jpg
KCI등재 학술저널

형식승인을 위한 측기의 드리프트 검사 방법

측기의 드리프트는 시간의 경과, 환경변화, 마모, 충격, 진동, 전자기장 그리고 부적절한 사용 등에 의해 발생한다. 제한된 시험 기간에 출력값의 변화를 직접적으로 드리프트로 결정하는 것은 부적절하므로 측기 교정 방법에 시간에 따른 변화를 부여하여 제로 드리프트와 스팬 드리프트를 모두 반영하는 새로운 알고리즘을 제안하였다. 승온과 감온 과정의 아홉 단계 항온 환경에서 1분 간격으로 약 60분 동안 측정한 온도의 드리프트는 0.49%로 산출되었다.

Instrument drift is caused by the passage of time, environmental changes, normal wear and tear, debris buildup, sudden shock, vibrations, electromagnetic fields, and improper use. Since it is inappropriate to directly determine the change of the output value as drift during the limited test period, a new algorithm that reflects both zero drift and span drift by giving changes over time to the calibration method of the instrument was proposed. The temperature drift was calculated to be 0.49% for about 60 minutes at 1-minute intervals in the nine-step constant temperature environment through the warming and cooling process.

I. 서론

II. 연구방법

III. 실험결과

IV. 요약 및 결론

References

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