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Ⅰ. 서론
Ⅱ. 열저항𝜃의 측정
Ⅲ. 열저항의 직선성과 열저항 값의 변화
Ⅳ. 강제 냉각에 의한 Transistor의 최대 전력 제한
Ⅴ. 접합 온도의 시간적 변화
Ⅵ. 과부하시 transistor 파괴 방지
Ⅶ. 결론
참고문헌
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