한국탄소학회 Carbon Letters 제2권 제3호 Principle of Field Emission-Scanning Electron Microscopy(FE-SEM) and its Application to the Analysis of Carbon Nanostructures

SCOPUS 학술저널

Principle of Field Emission-Scanning Electron Microscopy(FE-SEM) and its Application to the Analysis of Carbon Nanostructures
Principle of Field Emission-Scanning Electron Microscopy(FE-SEM) and its Application to the Analysis of Carbon Nanostructures

한국탄소학회

Carbon Letters

제2권 제3호

: SCOPUS, SCIE, KCI등재
2001.12
202 - 211 (10 pages)

자연과학 자연과학일반

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최근 들어 탄소나튜브를 필두로 하는 나노 산소재에 대한 관심이 중대되면서 나노 스케일에서의 구조와 물리적 성질간의 상관성에 대한 연구가 급증하고 있다. 전자현미경은 이러한 나노 수준에서의 구조를 파악하는데 있어 없어서는 안될 기기이며 특히, 전게 방출형 주사전자형미경은 소재의 표면구조를 나노 수준까지 조사할 수 있는 아주 유효한 수다으로 알려져 있다.

1.서론

2.FE-SEM 구성

3.전자빔과 시편과의 상호작용

4.이미지형성

5. 탄소 소재 분석의 실제 예

참고문헌

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