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SCOPUS 학술저널

광중합형 및 자가중합형 교정용 전색제의 치아우식예방 및 진행억제효과에 관한 실험적 연구

The effects of fluoride releasing orthodontic sealants on the prevention and the progressive inhibition of enamel demineralization in vitro

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고정성 교정장치 주변에 발생되는 백색반점은 임상적으로 쉽게 눈에 띄는 문제점을 가지고 있으므로 잔치제거 후 심니적으로 만족스럽지 못한 결과를 야기하는데, 이는 곧 교정치료의 실패를 의미한다. 이미 많은 연구를 통해 고정성 교정장치가 구강내 세균환경을 변화시켜 세균집단의 증식을 용이하게 함으로써 고정성 장치 부착 후, 법랑질 탈회의 발생빈도가 증가된다는 사실이 보고 되어 왔으며 장기간 소요되는 교정치료의 특성으로 인해 발생되는 브라켓 또는 교정용 밴드 주변의 법랑질 탈회나 치아우식증을 예방 또는 억제시키기 위한 연구가 함께 진행되어 왔다. 이는 환자에 대한 구강위생 교육이나 치아관리 노력에도 불구하고 발생될 수 있는데 이를 예방하기 위한 방법의 하나로 불소가 유리되는 교정용 전색제를 사용할 수 있다. 본 연구는 불소가 유리되는 광중합형 및 자가중합형 교정용 전색제의 치아우식 예방 및 진행억제효과를 규명하기 위해 다음과 같이 각각 7개의 편광현미경군(A군-G군)과 주사전자현미경군(A&#180;군-G군&#180;)으로 분류하였고[1. A & A&#180;군 : STPP<sup>*</sup> 인공우식용액에 담그지 않은 정상치아군, 2. B & B&#180;군 : STPP 인공우식용액에 담그고 37&#176;C의 항온용기에 72시간 보관한 비처치군, 3. C & C&#180;군 : STPP 인공우식용액에 담그고 37&#176;C의 항온용기에 72시간 보관한 자가중합형 교정용 전색제군, 4. D & D&#180;군 : STPP 인공우식용액에 담그고 37&#176;C의 항온용기에 72시간 보관한 광중합형 교정용 전색제군, 5. E & E&#180;군 : 표면에 아무처리 없이 STPP 인공우식용액에 담그고 37&#176;C의 항온용기에 72시간 보관 후, 이를 다시 아무런 처치없이 STPP 인공우식용액에 담그고 37&#176;C의 항온용기에 72시간 보관한 비처치군, 6. F & F&#180;군 : 표면에 아무런 처치없이 STPP 인공우식용액에 담그고 37&#176;C의 항온용기에 72시간 보관한 후, 자가중합형 교정용 전색제를 도포하고 이를 다시 STPP인공우식용액에 담그고 37&#176;C의 항온용기에 72시간 보관한 자가중합형 교정용 전색제, 7. G & G&#180;군 : 표면에 아무런 처치없이 STPP 인공우식용액에 담그고 37&#176;C의 항온용기에 72시간 보관한 후, 광중합형 교정용 전색제를 도포하고 이를 다시 STPP 인공우식용액에 담그고 37&#176;C의 항온용기에 72시간 보관한 광중합형 교정용 전색제군], 이들을 편광현미경과 주사전자현미경을 이용해 조직의 변성 여부를 검색하여 다음과 같은 결과를 얻었다. 1. 편광현미경적 연구에서 인공우식병소의 깊이는 A군(5.08&#956;m), B군(47.82&#956;m), C군(8.42&#956;m), D군(7.20&#956;m), E군(85.41&#956;m), F군(60.38&#956;m), G군(60.13&#956;m), 이었다. 2. 인공우식 병소의 깊이에 있어서, B군은 A군, C군, D군과 비교하여 통계학적으로 유의성 있는 차이를 보였고(p<0.05), E군은 F군, G군과 비교하여 통계학적으로 유의성 있는 차이를 보였다(p<0.05). 3. 광중합형 및 자가중합형 교정용 전색제는 법랑질탈회 예방효과가 있었다. 4. 광중합형 및 자가중합형 교정용 전색제는 법랑질탈회 진행억제효과가 있었다. 5. 광중합형 및 자가중합형 교정용 전색제 표본에 대한 주사전자현미경적 연구에서 인공우식용액의 시간 경과에 따른 영향은 없었다. 6. 광중합형 교정용 전색제 표본과 자가 중합형 교정용 전색제 표본 사이의 차이는 편광현미경과 주사전자현미경으로 구별할 수 없었다.

The purpose of this study was to identifu the preventive and the preventive and the progressive inhibitory effects of enamel demineralization with fluoride releasing light-and self-cured orthodontic sealants(FluoroBond), in vitro, under the polarizing light microscope and the scanning electon microscope. The polarizing light microscopic group was subdivided into seven groups(Group A-Group G). The scanning electron microscopic group was also subdivided into seven groups(Group A´-Group G´). For polarzing light microscopic evaluation, longitudinal sections were made longitudinally by Maruto cutter(Maruto Co., Japan) and Maruto grinding machine(Maruto Co., Japan). Sections were examined and photographed by the polarizing light microscope(Olympus Optical Co., Japan) using crossed polars and with the enamel rod longitudinal axis oriented at 45° to the extinction position. For scanning electron microscopic evaluation, the specimens were coated with a highly conducting layer of gold palladium in a model Hus-4 high0vacuum evaporator<sup>*</sup> and examined in an ISI-100B scanning electron microcpe<sup>**</sup> operated at 20kV. The results of this study were as follows : 1. The mean deoths of artificial carious lesions under a polarized light microscope were Group A(5.08μm), Group B(47.82μm), Group C(8.42μm), Group D(7.20μm), Group E(85.41μm), Group F(60.38μm), Group G(60.13μm). 2. There were statistically significant differences in Group B compared with Group A, C, and D(p&lt;0.05), and also, in Group E compared with Group F and Group G(p&lt;0.05). 3. Light-and self-cured orthodontic sealants had the preventive effects of enamel demineralization. 4. Light-and self-cured orthodontic sealants had the progressive inhibitory effects enamel demineralization. 5. The time progress of demineralizing agent no ingluecse on the samples of light-and self-cured orthodontic sealants under the scanning electron microscope. 6. There was no difference between the specimens of light-and self-cured orthodontic edalants both in the polarized light microscopic group and in the scanning electron microscopic group. <sup>*</sup>Hitachi Ltd, Tokyo, Japan <sup>**</sup>International Scientific Instruments, Santa Clara, Calif.

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